玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第2年

19270095986

  • 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀

    半導(dǎo)體設(shè)備NEX CG II日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀下一代偏振光學(xué)能量色散射線熒光光譜儀

    型號(hào)： NEX CG II 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/10/8 8:34:59 對(duì)比
    單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置探測(cè)器單晶射線衍射測(cè)角儀
  • 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku射熒光射線分析儀

    半導(dǎo)體設(shè)備NANOHUNTER II日本理學(xué)Rigaku射熒光射線分析儀半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku射熒光射線分析儀臺(tái)式全內(nèi)反射熒光X射線分析儀可進(jìn)行高靈敏度...

    型號(hào)： NANOHUNTE... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 11:52:39 對(duì)比
    單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置探測(cè)器單晶射線衍射測(cè)角儀
  • 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀

    半導(dǎo)體設(shè)備Micro-Z ULS日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀波長(zhǎng)色散X射線熒光余氯分析儀臺(tái)式波長(zhǎng)色散X射線熒光...

    型號(hào)： Micro-Z C... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 11:18:37 對(duì)比
    單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置探測(cè)器單晶射線衍射測(cè)角儀
  • 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀

    半導(dǎo)體設(shè)備Micro-Z ULS日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀熒光射線硫分析儀臺(tái)式波長(zhǎng)色散射線熒光光譜儀，能夠根...

    型號(hào)： Micro-Z U... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 10:54:43 對(duì)比
    單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置探測(cè)器單晶射線衍射測(cè)角儀
  • 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀

    半導(dǎo)體設(shè)備Simultix15日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀多元素同步熒光射線分析儀可進(jìn)行高通量、高精度分析的多...

    型號(hào)： Simultix1... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 10:50:56 對(duì)比
    單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置探測(cè)器單晶射線衍射測(cè)角儀
  • 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀

    半導(dǎo)體設(shè)備ZSX Primus400日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀掃描式熒光X射線分析儀

    型號(hào)： ZSX Primu... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 10:48:21 對(duì)比
    單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置探測(cè)器單晶射線衍射測(cè)角儀
  • 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀

    半導(dǎo)體設(shè)備ZSX Primus III NEXT日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀掃描式熒光射線分析儀采用頂照法的掃...

    型號(hào)： ZSX Primu... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 10:45:04 對(duì)比
    單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置探測(cè)器單晶射線衍射測(cè)角儀
  • 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀

    半導(dǎo)體設(shè)備ZSX Primus IVi日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀掃描式熒光射線分析儀底照式掃描熒光射線分析儀

    型號(hào)： ZSX Primu... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 10:42:03 對(duì)比
    單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置探測(cè)器單晶射線衍射測(cè)角儀
  • 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀

    半導(dǎo)體設(shè)備Supermini200日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀波長(zhǎng)色散緊湊型熒光射線分析儀

    型號(hào)： Supermini... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 10:39:23 對(duì)比
    單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置探測(cè)器單晶射線衍射測(cè)角儀
  • 日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置

    日本XtaLAB mini理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置臺(tái)式單晶射線結(jié)構(gòu)分析儀配備單光子混合像素探測(cè)器的臺(tái)...

    型號(hào)： XtaLAB mi... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 10:29:02 對(duì)比
    單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置探測(cè)器單晶射線衍射測(cè)角儀
  • 日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置

    日本XtaLAB Synergy-i理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置配備微焦點(diǎn)封裝管系統(tǒng)的單晶X射線結(jié)構(gòu)分析...

    型號(hào)： XtaLAB Sy... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 10:25:28 對(duì)比
    單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置探測(cè)器單晶射線衍射測(cè)角儀
  • 日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置

    日本XtaLAB Synergy-DW理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置配備旋轉(zhuǎn)對(duì)陰極源、支持兩種波長(zhǎng)輻射源的...

    型號(hào)： XtaLAB Sy... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 10:22:21 對(duì)比
    單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置探測(cè)器進(jìn)口測(cè)角儀
  • 日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置

    日本XtaLAB Synergy-R理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置配備旋轉(zhuǎn)反陰極射線源的超高速、超高精度單...

    型號(hào)： XtaLAB Sy... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 10:20:10 對(duì)比
    單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置探測(cè)器進(jìn)口測(cè)角儀
  • 日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置

    日本XtaLAB Synergy-S理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置日本理學(xué)Rigaku單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置配備高亮度微焦點(diǎn)封閉管X射線源的單晶射線...

    型號(hào)： XtaLAB Sy... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 10:17:52 對(duì)比
    單晶結(jié)構(gòu)分析射線探測(cè)裝置探測(cè)器進(jìn)口測(cè)角儀
  • 玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度射線

    玉崎科學(xué)XTRAIA CD-3010G半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度射線玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度射線斜入射X射線CD測(cè)量工具

    型號(hào)： XTRAIA CD... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 10:00:37 對(duì)比
    半導(dǎo)體射線分析儀全內(nèi)反射熒光實(shí)驗(yàn)室進(jìn)口
  • 玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度射線

    玉崎科學(xué)XTRAIA CD-3200T半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度射線玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度射線透射射線CD測(cè)量工具

    型號(hào)： XTRAIA CD... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 9:58:14 對(duì)比
    半導(dǎo)體射線分析儀全內(nèi)反射熒光實(shí)驗(yàn)室進(jìn)口
  • 玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度測(cè)角儀

    玉崎科學(xué)XRTmicron半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度測(cè)角儀玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度測(cè)角儀高通量、高分辨率射線形貌成像系統(tǒng)

    型號(hào)： XRTmicron 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 9:53:18 對(duì)比
    半導(dǎo)體射線分析儀全內(nèi)反射熒光實(shí)驗(yàn)室進(jìn)口
  • 玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度測(cè)角儀

    玉崎科學(xué)TFXRD-200半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度測(cè)角儀玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度測(cè)角儀射線衍射 (XRD) 系統(tǒng)可對(duì)最大 200 毫米晶...

    型號(hào)： TFXRD-200 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 9:50:51 對(duì)比
    半導(dǎo)體射線分析儀全內(nèi)反射熒光實(shí)驗(yàn)室進(jìn)口
  • 玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度測(cè)角儀

    玉崎科學(xué)TFXRD-300半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度測(cè)角儀玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度測(cè)角儀用于 300 mm 晶圓全圖繪制的射線衍射 (XR...

    型號(hào)： TFXRD-300 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 9:49:43 對(duì)比
    半導(dǎo)體射線分析儀全內(nèi)反射熒光實(shí)驗(yàn)室進(jìn)口
  • 玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku射線膠片厚度

    玉崎科學(xué)XTRAIA XD-3300半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku射線膠片厚度玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku射線膠片厚度在線 HRXRD/XRR 測(cè)量工具

    型號(hào)： XTRAIA XD... 所在地：深圳市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/29 9:46:30 對(duì)比
    半導(dǎo)體射線分析儀全內(nèi)反射熒光實(shí)驗(yàn)室進(jìn)口
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